光学膜厚监控仪
HOM5-T-IR2000
中红外光学膜厚监控仪
HOM5-T-IR2000是用于生产红外滤光片的光学薄膜镀膜机的中红外透射型光学膜厚监测仪。 其波长范围覆盖1700-5500nm，波长监控范围比在线十大娱乐棋牌平台以前的900-2400nm的膜厚仪还要宽。
- 特征
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新开发的光学厚度监测仪的波长监控范围为1700-5500 nm（1819-5882 cm-1）
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在红外范围内具有很高的光稳定性
- 规格
- 型号 HOM5-T-IR2000
- 波长范围 1700 - 5500nm
- 电源 交流电100V±10%, 50/60Hz
